Future Display

일시: 2026년 4월 23일(목요일)

장소: 수원컨벤션센터 205~206호

주최: (사)한국정보디스플레이학회 Metrology & Inspection Technology 연구회

후원: 양전자시스템, 힉스컴퍼니, 앤비젼, 파크시스템스

 

한국정보디스플레이학회 산하 Metrology & Inspection Technology 연구회에서는 디스플레이 산업, 학계, 연구자들간의 기술적 교류 활성화를 위해 아래와 같이 워크숍을 개최합니다. 최근 다양하고 고도화되는 디스플레이 기술개발에 있어 반드시 필요한 검, 계측기술 개발 및 교류를 하고자 합니다. 26년 연구회 설립이후 두번째 워크숍을 진행하고자 합니다. 관심있는 분들의 많은 참석 부탁드립니다.

2026년 03월 23일

한국정보디스플레이학회 Metrology & Inspection Technology 연구회장 손상락

한국정보디스플레이학회 회장 이청

 

4월 23일(목요일)

	시간	내용	연사
4/23 (목)	08:50~09:20	등록
	좌장: 박용준 박사 (삼성디스플레이)
	09:20~09:30	개회사 – 연구회장 손상락 상무
	09:30~10:00	Hybrid meta-optics and applications	김선제 교수 (숭실대학교))
	10:00~10:30	Dynamic polarization-interferometric optical metrology	김대석 교수 (전북대학교)
	10:30~11:00	펨토초 레이저 광빗 기반 초정밀 선형/비선형 광측정/검사 기술	김영진 교수 (카이스트)
	11:00~11:20	Break & communication
	좌장: 이준호 교수 (공주대학교)
	11:20~11:50	100Gbps COF 기반 차세대 머신비젼을 이용한 초고속 이미징과 AI 멀티모드 이미징 응용	권혁훈 본부장 (뷰웍스)
	11:50~12:20	Optimize Your Vision - Utilizing FPGA Hardware Pre-Processing	김상래 팀장 (BASLAR)
	12:20~14:00	Lunch
	좌장: 김태곤 교수 (한양대학교)
	14:00~14:30	마이크로LED디스플레이 산업화를 위한 Metrology & Inspection 기술	김정현 센터장 (한국광기술원)
	14:30~15:00	XR용 Microdisplay를 위한 검사기술	이정훈 CTO (ELP)
	15:00~15:30	착용형 디바이스를 통한 입체영상 구현 기술	변준원 책임 (ETRI)
	15:30~15:50	Break & communication
	좌장: 박용준 박사 (삼성디스플레이)
	15:50~16:20	최신 반도체소자 개발 현황 및 핵심 분석 이슈	김태곤 교수 (한양대학교)
	16:20~16:50	Computational Fluorescence Imaging for Nondestructive Inspection	유홍기 교수 (카이스트)
	16:50~17:20	TBD	TBD (삼성전자)
	17:20~17:30	폐회사/사진촬영

 

1. 사전등록 기한: 4월 13일(월요일)까지

2. 신청 방법: 홈페이지 www.k-ids.or.kr 상단 학술행사 > 학회 연구회행사  > Metrology & Inspection Technology 워크숍 행사명 클릭 > 빨간 글씨의 [상세내용보기] > 사전등록신청 및 확인 클릭 후 신청

3. 결제 방법: 카드 결제, 실시간 계좌이체, 무통장 입금(입금계좌: 수협은행, 1010-2733-0648, 한국정보디스플레이학회)

* 세금계산서 발행 요청: kids3@k-ids.or.kr (등록자 정보, 사업자등록증, 입금예정일 발송)

 

1. 등록비 안내

2. 등록비에 포함된 제공 내용: 초록집

* 비회원 등록자는 행사 종료 후 KIDS홈페이지에서 회원가입 시, 입회비와 올해 연회비가 납부처리 됨

 

1. 등록 및 결제 관련 문의: 학회 이소연 과장(Tel: 02-563-7922/ email: kids3@k-ids.or.kr)

2. 행사 내용 관련 문의: 삼성디스플레이 박용준 (Tel: 010-2762-1473/ email: yjun7.park@samsung.com)